Лекции профессора В.А.Быкова в ОЦ "Сириус": сканирующая зондовая микроскопия

В ОЦ "Сириус" прошли лекции и встречи в тесном кругу со школьниками направления "Нанотехнологии" основателя и генерального директора компании НТ - МДТ СИ (в настоящий момент - почетный президент группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс), профессора МФТИ, д.т.н. В.А.Быкова. Предлагаем вашему вниманию краткий фоторепортаж и иллюстративные материалы лекции.
Ключевые слова: атомно-силовой микроскоп, сканирующий зондовый микроскоп, АСМ, СЗМ, СТМ , сканирующий туннельный микроскоп, спектроскопия комбинационного рассеяния, рамановское рассеяние, AFM, RAMAN, TERS, СБОМ, SNOM, Интегра Спектра, Наноэдюкатор II, НЕКСТ II, SOLVER NANO, NTEGRA SPECTRA, NANOEDUCATOR II, кантилевер, зонд, cantilever, probe, tips