Лекции профессора В.А.Быкова в ОЦ "Сириус": сканирующая зондовая микроскопия

14 сентября 2018
324
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Презентация
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com www.ntmdt-si.com www.ntmdt-tips.com
Ссылка на публикацию в интернете www.nanometer.ru/2017/07/08/1499522915878_527603.html

Аннотация

В ОЦ "Сириус" прошли лекции и встречи в тесном кругу со школьниками направления "Нанотехнологии" основателя и генерального директора компании НТ - МДТ СИ (в настоящий момент - почетный президент группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс), профессора МФТИ, д.т.н. В.А.Быкова. Предлагаем вашему вниманию краткий фоторепортаж и иллюстративные материалы лекции.
Ключевые слова: атомно-силовой микроскоп, сканирующий зондовый микроскоп, АСМ, СЗМ, СТМ , сканирующий туннельный микроскоп, спектроскопия комбинационного рассеяния, рамановское рассеяние, AFM, RAMAN, TERS, СБОМ, SNOM, Интегра Спектра, Наноэдюкатор II, НЕКСТ II, SOLVER NANO, NTEGRA SPECTRA, NANOEDUCATOR II, кантилевер, зонд, cantilever, probe, tips
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.