Атомно-силовая микроскопия деформаций полимерных материалов. Д. Багров, И. Яминский
14 сентября 2018
494
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com |
Ссылка на публикацию в интернете | www.nanoindustry.su/files/article_pdf/2/article_2376_744.pdf |
Аннотация
При изучении механизмов деформаций твердых тел возникают задачи установления связи между макроскопическими свойствами и особенностями структуры на микро- и наноуровне. Для их решения идеально подходит система, совмещающая атомно-силовой микроскоп (АСМ) с устройством для деформации образца. Использование такой системы позволяет описать изменение структуры поверхности, измерить механические характеристи- ки материала и исследовать ранние стадии зарождения микротрещин.
НТ-МДТ, NT-MDT, СЗМ, АСМ, SPM, AFM, сканирующий зондовый микроскоп, атомно- силовой микроскоп, NOVA
ПодробнееНТ-МДТ, NT-MDT, СЗМ, АСМ, SPM, AFM, сканирующий зондовый микроскоп, атомно- силовой микроскоп, NOVA
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.