Интегра Спектра II (АСМ - РАМАН - СБОМ - ТЕРС) NTEGRA SPECTRA II (AFM - RAMAN - SNOM -TERS)

14 сентября 2018
456
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Презентация
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com
Ссылка на публикацию в интернете

Аннотация

Еще в 1998 г. НТ-МДТ успешно интегрировала АСМ с методами
оптической микроскопии и спектроскопии. В настоящее время
поддерживаются более 30 базовых и продвинутых АСМ методик,
включая HybriD ModeTM, предоставляя обширную информацию о
физических свойствах оборазца.
Интеграция АСМ с конфокальной рамановской/флуоресцентной
микроскопией обеспечивает широчайший набор дополнительной
информации об образце. Одновременное получение АСМ
и рамановских изображений точно той же области образца
предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах
(АСМ, AFM) и химическом составе (Раман, RAMAN) образца.
CdS нанопроволока была соединена с металлическим электродом
проволокой из проводящего полимера. Зонд АСМ позициониро-
вался на структуре с помощью оптического микроскопа. Благодаря
форме АСМ зонда луч лазера может быть сфокусирован непосред-
ственно на острие зонда.
АСМ изображение высокого разрешения представляет информа-
цию о рельефе образца. Рамановское и люминесцентное изобра-
жения того же участка показывают разницу в химическом составе
нанопроволок.
Благодаря зондово усиленному комбинационному рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) ИНТЕГРА Спектра II позволяет проводить
спектроскопию/микроскопию с нанометровым разрешением.
Специально изготовленные АСМ зонды (наноантенны) могут быть
использованы для TERS для локализации и усиления излучения в
нанометровой области около острия зонда. Такие наноантенны
действуют как “наноисточники” излучения, давая возможность
получения оптического изображения с разрешением на порядки
лучше дифракционного предела (до ~ 10 нм).
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.