Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ)
14 сентября 2018
548
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.nanonewsnet.ru/blog/nikst/skaniruyushchaya-blizhnepolno-opticheskaya-mikroskopiya-sbom |
Аннотация
Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ) это один из способов преодолеть предел диффракции. Свет не может пройти через отверстие меньше половины длины волны (около 200 нм для видимого света). Но на расстояниях, сравнимых с длиной волны свет может «заходить» за плоскоcть отверстия.
Ключевые слова: Интегра Спектра, NTEGRA SPECTRA, СБОМ, SNOM, NSOM, TERS tip-enhanced Raman scattering, AFM, SPM, АСМ, СЗМ, сканирующий зондовый микроскоп, атомно-силовой микроскоп, комбинационное рассеяние (КР)
ПодробнееКлючевые слова: Интегра Спектра, NTEGRA SPECTRA, СБОМ, SNOM, NSOM, TERS tip-enhanced Raman scattering, AFM, SPM, АСМ, СЗМ, сканирующий зондовый микроскоп, атомно-силовой микроскоп, комбинационное рассеяние (КР)
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.