Рентгеновская дифрактометрия

14 сентября 2018
512
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации
Ссылка на публикацию в интернете lab-solutions.ru/information/xrd/

Аннотация

Теоретические основы метода (РДА, РФА, РСА, общепринятое обозначение — XRD).

Рентгенострукту́рный ана́лиз (рентгенодифракционный анализ) - один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решетке. Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыт Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером. Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, ее размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла. Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны (википедия).
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.