Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700
14 сентября 2018
291
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
позволяет проводить измерения методами атомно-силовой(AFM), магнитно-силовой(LFM), сканирующей туннельной микроскопии(STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM)