LCR-метр E4980A со встроенным источником питания

Измерение электрофизических характеристик (емкость, проводимость, сопротивление, tgδ, добротность, индуктивность, импеданс, ток, напряжение и пр.). Входит в состав установки спектроскопии адмиттанса полупроводниковых наноструктур, которая позволяет проводить измерения вольт-фарадных характеристик, температурных и частотных спектров емкости и проводимости при температурах от 10 до 500 К в диапазоне частот от 20 Гц до 2 МГц при приложении смещений /- 40В.