Комплекс интегрированный атомной силовой микроскопии со спектрометром комбинационного рассеяния INTEGRA SPECTRA
14 сентября 2018
244
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Татарстан, Казань |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
1. Спектроскопические и зондовые исследования фотонных материалов, тонких пленок, материалов квантовой электроники и полупроводникового производства;
2. Спектроскопия одной молекулы;
3. Оптические исследования субволновых объектов;
4. Электросиловая и оптическая литография.
2. Спектроскопия одной молекулы;
3. Оптические исследования субволновых объектов;
4. Электросиловая и оптическая литография.