Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп

Сканирующий автоэмиссионный электронный микроскоп MIRA LMU позволяет получать изображения поверхности с большой глубиной фокуса в широком диапазоне увеличений (от 5х до 1 000 000х), в режиме высокого или переменного вакуума, в режиме топографического контраста или в режиме контраста по атомному номеру. Микроскоп оснащен рентгеновским энергодисперсионным детектором INCA X MAX 50, позволяющим проводить качественный и количественный элементный анализ образцов с локальностью порядка 1 мкм, идентифицировать элементы от Be, а также получать рентгеновские карты распределения элементов на заданном участке.
Микроскоп предназначен для анализа структуры материала на микро- и наноуровне (с разрешением до 1 нм) и оценки качества поверхности различных материалов, в том числе с модифицированной поверхностью, с различного рода покрытиями (в том числе нанокомпозитными), а также материалов после эрозионных, коррозионных и других видов испытаний.