Система элементного анализа покрытий на основе спектрометра с тлеющим разрядом в составе: - оптико-эмиссионный спектрометр для проведения анализов элементного состава покрытий методом оптической эмиссионной спектрометрии с тлеющим разрядом; - генератор аз

Система элементного анализа покрытий на основе спектрометра с тлеющим разрядом GD Profiler-2 позволяет проводить анализ содержания Ti, Al, Si, Ni, Cr, Fe, C, Cu, Zr, Y, B, Nb, Mo, S, P, N, O в едином цикле измерения в непрерывном или в пульсирующем режиме для электропроводных и неэлектропроводных образцов. Генератор азота производит высокочистый азот и позволяет продувать оптическую систему спектрометра при работе в области дальнего ультрафиолета.
Система элементного анализа предназначена для проведения послойного элементного анализа поверхностных слоев после проведения различного рода модификации поверхности и формирования покрытий различного назначения с высоким разрешением по глубине (до 10 нм); а также объемного анализа элементного состава конструкционных материалов при контроле качества основного материла или при проведении контроля состояния поверхностного слоя после проведенного модифицирования.