Оптико-электронная система измерения поверхности дефектов(сканирующий зондовый микроскоп) Солвер Некст
14 сентября 2018
809
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Алтайский край, Барнаул |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Сканирующая зондовая микроскопия для выявления наноразмерных дефектов.
Микроскоп предназначен для исследования:
топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;
распределения латеральных сил (например, силы трения);
намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);
распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);
вольт-амперной характеристики покрытий в точке;
проведение литографии.
Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.
Микроскоп предназначен для исследования:
топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;
распределения латеральных сил (например, силы трения);
намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);
распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);
вольт-амперной характеристики покрытий в точке;
проведение литографии.
Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.