Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV JEOL с системой микроанализа INCA
14 сентября 2018
729
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Бурятия, Улан-Удэ |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 75 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений поверхности образцов с высоким разрешением в режимах высокого, низкого вакуума различных типов образцов (микроэлектроники, массивные проводники, диэлектрики, пленки, полимеры, биологические объекты).