Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV JEOL с системой микроанализа INCA
14 сентября 2018
473
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Бурятия, Улан-Удэ |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2008 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 75 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений поверхности образцов с высоким разрешением в режимах высокого, низкого вакуума различных типов образцов (микроэлектроники, массивные проводники, диэлектрики, пленки, полимеры, биологические объекты).