Фотоэлектронный спектрометр K-ALPHA (THERMO SCIENTIFIC)
14 сентября 2018
390
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет проводить элементный анализ поверхности. Сдвиг энергии связи в зависимости от ближайшего
окружения позволяет исследовать химическое состояние элементов. Возможно сканирование по глубине (травление ионной пушкой), по линии и по плоскости с картированием выбранных элементов. Возможно неразрушающее исследование пленок и покрытий толщиной несколько
нанометров с использованием модуля наклона.
окружения позволяет исследовать химическое состояние элементов. Возможно сканирование по глубине (травление ионной пушкой), по линии и по плоскости с картированием выбранных элементов. Возможно неразрушающее исследование пленок и покрытий толщиной несколько
нанометров с использованием модуля наклона.