Микроскоп двойной МИС-11
14 сентября 2018
645
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Костромская область, Кострома |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2004 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
позволяет производить измерения высоты неровностей профиля поверхностей в пределах от 0,8 микрона до 62,5 микрона, то есть определять класс чистоты поверхности с 3 по 9 включительно, со гласно ГОСТу № 2789-45. С помощью микроскопа МИС-11 можно проводить обмеры профиля наружных поверхностей плоских и цилиндрических.