Аренда / Заказ исследования Контурограф XC20 (Measuring system MarSurf XC 20) в г.Москва

Классификация оборудования	Оборудование для оптических измерений и исследований (кроме микроскопов и телескопов)
Страна, регион, город	Российская Федерация, Москва
Страна производства	Германия
Год производства	2010
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Аренда\|Заказ исследования
Стоимостная группа	от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг	договорная
Регламент предоставления услуги	—
Объект коллективного пользования	Нет
Наличие аккредитации	Нет
Наличие ГОСТированной методики	Нет

Описание

Контроль контура

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
ГЭТ 178-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей с длительностью фронта импульсов до 20 пс, (ВНИИОФИ)	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Установка для лазерного сплавления металлических порошков ПN 20/12,5	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Полупроводниковый лазер на подставке мощностью 20 мВт.	РФ	Аренда, Заказ исследования	Москва
Аппарат автоматический АТВО-20	РФ	Аренда, Заказ исследования	Воронеж
Измерительная система для контроля пространственного распределения силы и цвета излучения IS-LI™ Luminous Intensity Measurement System (Radiant Imaging)	США	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Импульсная Nd:YAG лазерная система с перестраиваемой длиной волны (Solar Laser System)	Белорусь (РБ)	Аренда, Заказ исследования	Калининград
Прибор для контроля параметров шероховатости поверхностей MarSurf XR20 с программой анализа микрорельефа поверхности XT20 и программой контроля геометрии поверхности XC20	Германия	Аренда, Заказ исследования	Москва