Контурограф XC20 (Measuring system MarSurf XC 20)
14 сентября 2018
674
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Контроль контура
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Импульсная Nd:YAG лазерная система с перестраиваемой длиной волны (Solar Laser System) | Белорусь (РБ) | Аренда, Заказ исследования | Калининград |
| Измерительная система для контроля пространственного распределения силы и цвета излучения IS-LI™ Luminous Intensity Measurement System (Radiant Imaging) | США | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Прибор для контроля параметров шероховатости поверхностей MarSurf XR20 с программой анализа микрорельефа поверхности XT20 и программой контроля геометрии поверхности XC20 | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |