Универсальный сканирующий зондовый микроскоп "Solver PRO"
14 сентября 2018
247
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2005 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование рельефа поверхности образцов (в режиме АСМ и т. д.) с разрешением в плоскости образца порядка 10 нм (ограничено радиусом кривизны зонда) и порядка 1 ангстрема по вертикали. Возможность исследования электрических (ЭСМ, Сканирующая Емкостная Микроскопия, Кельвин-Зондовая Силовая Микроскопия и т. д.) и магнитных свойств (МСМ метод) поверхности с разрешением порядка 30нм. Проведение исследований рельефа поверхноси образцов и их электрических свойств в режиме СТМ с разрешением вплоть до атомарного уровня.