Аналитический электронный микроскоп JEM-2100 (Jeol)
14 сентября 2018
348
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Кировская область, Киров |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | По заявке и согласно прейскуранту |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование морфологии и ультраструктуры микро- и нанообъектов.
Анализ химического состава выделенных структур в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии.
Получение дифракционной картины в режиме дифракции электронов.
Статистический анализ морфометрических параметров
Анализ химического состава выделенных структур в режиме сканирующей просвечивающей электронной микроскопии.
Получение дифракционной картины в режиме дифракции электронов.
Статистический анализ морфометрических параметров