Сканирующий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного анализа S3400N
14 сентября 2018
241
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Хабаровский край, Комсомольск-на-Амуре |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 583 руб. |
| Регламент предоставления услуги | На основании заявок о проведении исследований в соответствии с утвержденным ПЕРЕЧЕНЕМ ОСНОВНЫХ УСЛУГ ЦКП |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений поверхности образцов с высокими разрешением и степенью увеличения путем сканирования электронным пучком.
Определение спектрального состава материалов (Диапазон детектирования Be – Pu)
Определение спектрального состава материалов (Диапазон детектирования Be – Pu)