Сканирующий зондовый микроскоп Solver Next (НТ-МДТ)
14 сентября 2018
353
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Курская область, Курск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 100 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются на договорной основе. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поверхности методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии, получение сканов поверхности с разрешением до 10 нм; исследование поверхности методами сканирующей туннельной микроскопии, получение сканов поверхности с разрешением до 10 нм;
исследование локальных механических свойств поверхности (силы адгезии) методами атомно-силовой спектроскопии; исследование электрофизических и магнитных свойств поверхности (электрический потенциал, сопротивление, вольт-амперные характеристики контакта зонд-образец, распределение магнитных доменов) специальными методиками атомно-силовой микроскопии (зонд Кельвина, сопротивление растекания, магнитно-силовая микроскопия).
исследование локальных механических свойств поверхности (силы адгезии) методами атомно-силовой спектроскопии; исследование электрофизических и магнитных свойств поверхности (электрический потенциал, сопротивление, вольт-амперные характеристики контакта зонд-образец, распределение магнитных доменов) специальными методиками атомно-силовой микроскопии (зонд Кельвина, сопротивление растекания, магнитно-силовая микроскопия).