Стенд для определения параметров полупроводниковых структур методом вольт-фарадных измерений
14 сентября 2018
260
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 100 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются на основании хоздоговоров |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Анализ параметров полупроводниковых структур. Результат используется при проектировании полупроводниковых приборов и интегральных микросхем