| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 4 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначена для точного аналитического контроля на полупроводниковых пластинах диаметром до 200 мм, в частности, для испытания готовых компонентов,
анализа неисправностей, высокочастотных (ВЧ) испытаний в диапазоне до 220 Ггц, испытаний
оптоэлектронных и микроэлектромеханических схем.
анализа неисправностей, высокочастотных (ВЧ) испытаний в диапазоне до 220 Ггц, испытаний
оптоэлектронных и микроэлектромеханических схем.