Сканирующий микроскоп СММ-2000 бинокулярный стереомикроском МБС-10 (Завод Протон-МИЭТ)
14 сентября 2018
441
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | РФ |
Год производства | 2007 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 2 500 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование систем нанокластеров металлов на поверхности подложки, анализ формы кластеров, распределения по размерам и расстояниям до ближайших соседей, исследование структуры тонких пленок.