Сканирующий конфокальный микроскоп OLYMPUS LEXT OLS-300
14 сентября 2018
615
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 40 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Бесконтактный анализ шероховатости как гладких, так и грубых поверхностей с использованием интуитивно понятного программного обеспечения. Высокоточные измерения в режиме 2D и 3D в диапазоне от 1 мкм до 1.5 мм по каждой оси, например толщины прозрачных тонких пленок, глубины, площади, периметра, углов, радиусов и др. морфологических характеристик объектов. Воспроизводимость измерений 0,02 мкм по горизонтали и 0,052 мкм по вертикали.