Растровый электронный микроскоп JSM 6490 с приставками для энергодисперсионного и волнового микроанализа Oxford Inca (JEOL)
14 сентября 2018
268
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 45 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Линейные размеры фаз, частиц, включений, параметры кристаллической решетки: тип, период, ориентационные соотношения, химический состав (в весовых и атомных %) конструкционных наноупроченных материалов (металлов, неметаллов), порошковых металлов, порошков на основе керамики, композитных материалов