Просвечивающий электронный микроскоп TECHNAI G2 20 TWIN (FEI)

Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне. (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от бора до урана), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента.