| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
JIB-4000 – это однолучевая система со сфокусированным ионным пучком, которая может быть использована в режиме ионного микроскопа для анализа морфологии поверхности образцов либо в качестве системы ионного травления для приготовления образцов РЭМ и ПЭМ. Она оснащена ионной колонной специальной конструкции и отличается высокой производительностью и надежностью. Графический интерфейс пользователя прост и понятен, и управление системой не представляет трудностей даже для начинающих операторов.