| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 50 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет достичь быстрого и точного элементного анализа. Данная технология использует рентген низкой энергии, который дает хорошие результаты возбуждения легких элементов таких, как Si, S, Na и Mg. Кроме того, с уменьшением времени испытания в EDX3600B значительно была улучшена эффективность испытания. Также у EDX3600B хорошая линейность энергии, разрешение по энергии, свойства получаемого спектра и высокое отношение пик-фон при использовании нового детектора UHRD. Это стало доступно благодаря наличию модуля автоматической стабилизации спектра. Оригинальный спектр может быть легко преобразован, посредством применения UHRD(ultra high resolution detector) технологии, которая улучшает взвешенную аналитическую точность определения легких элементов Si, S, Al и т.д. Благодаря методу линейной регрессии множества параметров, влияния поглощения и отражающих эффектов между элементами могут быть значительно уменьшены.