Модуль электронный микроскопии с термоэмиссионной пушкой Шотки и энергодисперсионным спектрометром JSM-7800F (Jeol)
14 сентября 2018
229
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Якутия, Якутск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «GentleBeam»