Оже-микрозонд PHI-670xi (Physical Electronics)
14 сентября 2018
439
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Анализэлементного состава поверхности и получение профиля распределения элементов по глубине
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Спектрометр ОЖЕ | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Фотоэлектронный и Оже-спектрометр Эсхалаб МК-II | Великобритания | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Оже-электронный микроанализатор Jamp-9500F (Jeol) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Калининград |
| Сканирующий оже-электронный профилометр МР-2000 (Riber) | Франция | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Оже электронный спектрометр DESA-100 (Staib) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Воронеж |
| Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TRIFT NanoTof (PHI) | США | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |