| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2004 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения сканирующей микроскопии с высоким разрешением. Метод растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа с использованием растрового электронного микроскопа-микроанализатора JSM позволяет: проводить неразрушающий многоэлементный анализ в области от 3 мкм от натрия до урана