| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Краснодар |
| Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Петропавловск-Камчатский |
| Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Ставрополь |
