Спектрометр сканирующий фотоэлектронный PHI VersaProbe II 5000 (Physical Electronics)
14 сентября 2018
366
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Определение фазового состава приповерхностных слоев твердых тел; Полуколичественный и качественный элементный анализ поверхности твердых тел; Определение химического состояния элементов в приповерхностных слоях твердых тел; Определение валентного |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследования химического состава поверхностей твердых тел