Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System (Bede Scientific Instruments)

Предназначен для исследования гетероэпитаксиальных структур. Рентгеновская дифракция в низком разрешении (количественный и качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок). Проведение качественного фазового анализа; Оценка структурного совершенства кристаллов; Анализ текстуры; Исследование тонкопленочных (в том числе многослойных) структур; Исследование квантово-размерных структур разной размерности (квантовые ямы, квантовые нити, квантовые точки); Определение структурных параметров наночастиц в тонких слоях; Изучение микродефектов и радиационных повреждений в монрокристаллах; Определение шероховатости поверхности и межслойных границ в гетероструктурах; Контроль качества обработки поверхности; Исследование поведения точечных дефектов в сильно неравновесных полупроводниковых системах (ионно-легированные кристаллы, облученные нейтронами объемные кристаллы).