Растровый электронный микроскоп Quanta 200i 3D DualBeam с системой фокусированного ионного пучка (FEI)
14 сентября 2018
324
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Чечня, Грозный |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронной микроскопии высокого разрешения