Микроскоп электронный сканирующий Jeol JSM-7001F с приставкой EDX анализа Oxford INCA X-max 80, волнодисперсионного анализа WDS Oxford INCA WAVE, системами анализа фазового состава, структуры и текстуры кристаллических материалов методом дифракции обратно

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM-7001F является низковакуумным высокоразрешающим электронным микроскопом с катодом Шоттки. Конструкция микроскопа позволяет получать высокое разрешение даже при низких ускоряющих напряжениях. Отличительной особенность данного прибора является возможность исследования магнитных образцов различного размера благодаря специальной геометрии объективной линзы. Прибор позволяет изучить морфологию и элементный состав поверхности любого образца, способного выдержать вакуум 10–6–10–5 Па. Система картирования позволяет определить не только элементный состав, но и выявить наличие химических соединений. Элементный состав может быть определён как в среднем для всего изучаемого поля, так и для отдельных участков исследуемой поверхности. Основные технические характеристики: Пространственное разрешение: 1,2 нм при 30 кВ, 3 нм при 1 кВ. Диапазон увеличений от х10 до х1 000 000. Ускоряющее напряжение от 0,5кВ до 30 кВ. Ток пучка до 200 нА, при 15 кВ. Максимальный размер образца: диаметр до 100 мм. Максимальный вакуум до 10–6 Па.