Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Jeol JEM-2100
14 сентября 2018
381
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Челябинская область, Челябинск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
JEM-2100F – это универсальный 200кВ просвечивающий электронный микроскоп c термополевой пушкой Шоттки. Большое разнообразие полюсных наконечников и приставок позволяет сконфигурировать его для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью. Также термополевая пушка, благодаря высокой когерентности электронного пучка, позволяет получать высококонтрастные микрофотографии ультравысокого разрешения. По этой же причине, с помощью специальной бипризмы, на JEM-2100F можно работать в режиме электронной голографии.
Изучению образцов на наноуровне способствует наличие высокоточного и высокостабильного 5-осевого гониометрического столика образцов с пьезоподвижкой, которая позволяет очень плавно и точно перемещать образец на единицы нанометров при исследованиях с большими увеличениями (500000 крат и более), а также компенсировать его дрейф.
В комплект программного обеспечения входит программа, позволяющая по заданному алгоритму автоматически получать изображения вещества под разными углами и затем строить 3D изображение структуры.
В программу управления ПЭМ JEM-2100F легко интегрируются аналитические приставки: энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), спектрометр характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ), энергетический фильтр, различные ПЗС-камеры как бокового, так и нижнего крепления, а также многие другие приставки, позволяющие проводить уникальные исследования. Основные технические характеристики: – увеличение до ×1 500 000;
– пространственное разрешение по линиям до 0,14 нм;
– разрешение по точкам до 0,23 нм;
– ускоряющее напряжение от 80 до 200 Кв;
– размер пучка: 20-200нм (TEM режим), 1-15нм (STEM режим);
– наклон образца: /- 30° ;
– регистрация изображения: CCD камера высокого разрешения;
– программный комплекс для обработки и анализа микроскопических картин высокого разрешения (HRTEM), расшифровки и моделирования электронограмм;
– кристаллические базы дифракционных данных для неорганических кристаллов и порошков.
Изучению образцов на наноуровне способствует наличие высокоточного и высокостабильного 5-осевого гониометрического столика образцов с пьезоподвижкой, которая позволяет очень плавно и точно перемещать образец на единицы нанометров при исследованиях с большими увеличениями (500000 крат и более), а также компенсировать его дрейф.
В комплект программного обеспечения входит программа, позволяющая по заданному алгоритму автоматически получать изображения вещества под разными углами и затем строить 3D изображение структуры.
В программу управления ПЭМ JEM-2100F легко интегрируются аналитические приставки: энергодисперсионный спектрометр (ЭДС), спектрометр характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ), энергетический фильтр, различные ПЗС-камеры как бокового, так и нижнего крепления, а также многие другие приставки, позволяющие проводить уникальные исследования. Основные технические характеристики: – увеличение до ×1 500 000;
– пространственное разрешение по линиям до 0,14 нм;
– разрешение по точкам до 0,23 нм;
– ускоряющее напряжение от 80 до 200 Кв;
– размер пучка: 20-200нм (TEM режим), 1-15нм (STEM режим);
– наклон образца: /- 30° ;
– регистрация изображения: CCD камера высокого разрешения;
– программный комплекс для обработки и анализа микроскопических картин высокого разрешения (HRTEM), расшифровки и моделирования электронограмм;
– кристаллические базы дифракционных данных для неорганических кристаллов и порошков.