Микроскоп сканирующий зондовый Solver Pro-М (НТ-МДТ)

Сканирующий Зондовый Микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования. Диапазон измерений может варьироваться от 1,3 до 15-ти микронного по Z и от 3мкм до 150 мкм по XY. Высокая степень разрешения от молекулярного до атомарного уровня в режимах СТМ и контактной АСМ достигается за счет применения сканеров с диапазонами: 3х3х1,3мкм и 10х10х2мкм. Атомарное разрешение обеспечивается низким уровнем шумов сканера (0,25 A RMS по Z) и предельно малой величиной шага сканирования (используется 22-х разрядный ЦАП). Управляющая электроника нового поколения позволяет работать в высокочастотных режимах (до 5 мГц). Эта возможность оказывается принципиальной при работе с высокочастотными модами Атомно-Силовой Микроскопии или использовании высокочастотных кантилеверов. Передовые технологии конструирования и изготовления Солвер PRO-М, мощное программное обеспечение, которое легко настраивается на выполнение любой методики измерений, существенно сокращают время, необходимое для всестороннего исследования образца, и позволяют получить полную и достоверную информацию о его свойствах: рельефе поверхности, распределении магнитных и электрических полей, локальной жесткости и эластичности (включая количественную оценку модуля Юнга), вязкости, силе трения, адгезии и т.д.