Оптико-электронная система для диагностики поверхности пластин Ntegra Maximus
14 сентября 2018
288
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Система предназначена для изучения морфологии поверхности различных материалов с разрешением свыше 1 нм методами атомно-силовой микроскопии. Измерения во внешнем поперечном и продольном магнитном поле. Микроскопические исследования поверхности с атомарным разрешением. СЗМ для исследования больших (до 100 мм) образцов. Позволяет проводить серийные измерения в полуавтоматическом режиме. Для многих индустриальных приложений принципиальна возможность исследовать большие образцы, накапливая массивы данных по заранее заданным алгоритмам в автоматическом режиме.