CV-профилометр, IngenieurbüroWolff für Elektronik-und Programmentwicklungen
14 сентября 2018
315
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор использует принцип CV-профилометрии для измерения концентрации носителей заряда в подложке. Задачи, решаемые с помощью прибора:Позволяет измерять концентрацию носителей заряда в полупроводниках IV группы (Si, Ge, SiC), AIIIBV, AIIBVI, третичных III-V и пр.;Составляет график концентрации по глубине травления с шагом от 5нм и выше;Толщина измерения – до 30 мкм;Диапазон измерения зависит от типа и качества образца и может варьироваться от 1012 см-3до более чем 1021 см-3.Требования к образцам:Линейные размеры от 7х15мм до пластин диаметром 8 дюймов.