Масс-спектрометр времяпролетный вторично-ионный TOF.SIMS.5 (ION-TOF)
14 сентября 2018
910
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 50 т.р |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследования элементного и молекулярного состава поверхности, слоистых структур и межфазных границ, профилей легирования, получениетрехмерных картин распределения элементов