| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Современный сканирующий (растровый) электронный микроскоп с полностью автоматизированной системой электронной высококачественной оптики для изучения поверхности и анализа элементного состава широкого спектра образцов.Эвцентрический столик образца имеет минимальный сдвиг поля зрения, а также фокуса при вращении образца. Держатель предназначен для наблюдения особенностей поверхности, в том числе, под разными углами. Камера и столик для изучения больших образцов (до 150мм диаметром). Интуитивно понятный интерфейс. Многопользовательская система. Спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов расширяют возможности микроскопа до аналитических. С помощью аналитических приставок возможно получение информации о морфологии поверхности и составе образца на субмикронном уровне, получать распределения элементов. Ускоряющее напряжение от 0,5 до 30 кВ. Разрешение в режиме высокого вакуума 3 нм при 30 кВ, 8нм при 3кВ, 15нм при 1кВ. Диапазон увеличений от х8 до х300 000 при >11кВ от х5 до х300 000 при