Модуляционный интерференционный микроскоп МИМ-2.1
14 сентября 2018
270
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 39 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
- Разрешение по вертикали (Z) в стандартных условиях, нм: 0,4; - разрешение по вертикали (Z) при использовании активной виброзащиты, нм: 0,1; - латеральное разрешение (X, Y), нм: 15-80 (в зависимости от объекта); - оптическое увеличение микроскопа, крат: 1130; - поле зрения с объективом 100х/0,95, мкм : 14,6; - шаг дискретизации в плоскости, нм: 7; - шаг дискретизации по вертикали, нм: 0,01; - максимальная глубина изучаемого рельефа, нм: 260-800 (в зависимости от объекта); - размер растра, точек: от 1x1 до 1024x1024; - скорость съемки, точек/с: 500; - время съемки кадра 128x128 точек, с: 33; - время съемки кадра 1024x1024 точки, мин: 35; - максимальная частота динамических процессов, Гц: 500; - длина волны лазерного излучения, нм: 532; - мощность лазерного излучения, мВт: 40; - тип поляризации: эллиптическая; - степень поляризации: 200:1; - диапазон изменения угла поляризации, °: 0-360; - шаг изменение угла поляризации, °: 3,6±0,1; - максимальный размер образца, мм: 70; - максимальная толщина образца, мм: 16; - скорость фокусировки, мкм/с: 10; - шаг измерения фокусного расстояния, нм: 8.