Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension (Nanoman)
14 сентября 2018
288
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 35 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Методы микроскопии, доступные с имеющимся набором модулей: - атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, туннельная (СТМ), микроскопия сопротивления растекания, туннельная атомно-силовая, проводящая атомно-силовая; - область сканирования, мкм: 90; - максимальный размер образца, мм: 150; максимальная толщина образца, мм: 12; максимально-допустимый перепад высот образца, мкм: 7.