Микроскоп VEGA II SBH с высоким и пониженным вакуумом в камере и с системой микроанализа Oxford INCA Energy 250 ADD
14 сентября 2018
381
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Самарская область, Самара |
| Страна производства | Чехия |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Анализирует микро- и макроструктуру. Анализ фрактограмм поверхности излома. Исследование структур анодных и напыленных слоев на образцах и тонких пленок. Поэлементный химический анализ в локальной области до 2 нм. Рентгеновское исследование на вторичных электронах распределение элементов по поверхности образца