Рентгеновский дифрактометр XRD 6000 (Shimadsu)
14 сентября 2018
330
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 25 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования поликристаллических образцов. Радиус гониометра – 185 мм, минимальный шаг по углу – 0.002 град. (2q), 0.001 град.(q), воспроизводимость по углу – не более ±0.001 град (2q). Детектор пропорциональный сцинцилятор NaI.