Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Пермь |
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Красноярск |
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Оптический микроскоп INM 100 (Vistek) с ультрафиолетовым источником в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Краснодар |
Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Петропавловск-Камчатский |