Электронный микроскоп SEM TM-1000 (Hitachi) с системой микроанализа

Предназначен для просмотра изображений образца, облучаемого сфокусированным электронным лучом. Изображение получают благодаря регистрации электронов, рассеянных поверхностью образца в обратном направлении. Просмотр образца может проводиться при столь высокой степени увеличения, которая не доступна при работе с обычными оптическими микроскопами. Благодаря большей глубине резкости, удается получать стереоскопическое изображение. Не требуется трудоемкой подготовки образца и осложненной настройки условий наблюдения. Можно исследовать образцы с диаметром до 70 мм и с толщиной до 20 мм. Кроме того, управление микроскопом обеспечивается портативной вычислительной машиной. Удается пользоваться заложенными в нее выгодными функциями (автоматическая фокусировка, автоматическая настройка яркости и др.). Микроскоп ТМ-1000 полезен специалистам, работающим в областях материаловедения, биологии, контроля качества, специалистов ВУЗов и т.д.