Сканирующий электронный микроскоп JSM-5900LV, оснащенный энерго- и волнодисперсионными спектрометрами INCA Energy 200 и INCA Wave 500 JSM-5900LV, INCA Energy 200, INCA Wave 500 (JEOL)
14 сентября 2018
362
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2000 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 30 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет: получать изображение поверхности исследуемого объекта с разрешением 3.0 нм в высоковакуумном и 4,5 нм в низковакуумном режимах,
исследовать распределение концентрации элементов от B до U на поверхности и вдоль выбранного направления сканирования,
проводить количественный анализ в выбранных точках с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г.
исследовать структуру, морфологию, распределение и форму частиц для микроанализа в точке с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г и по линии сканирования
исследовать распределение концентрации элементов от B до U на поверхности и вдоль выбранного направления сканирования,
проводить количественный анализ в выбранных точках с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г.
исследовать структуру, морфологию, распределение и форму частиц для микроанализа в точке с локальностью до 1 мкм, точностью до 1—2 % и абсолютной чувствительностью до 10-13 г и по линии сканирования