Сканирующий зондовый микроскоп Jeol JSPM 5400
14 сентября 2018
459
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Краснодарский край, Краснодар |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование структуры поверхности методами атомно-силовой (контактный, полуконтактный, безконтактный метод, магнитно-силовая микроскопия, электро-силовая микроскопия, SKPM, диссипативная силовая микроскопия, латерально-силовая микроскопия, фазовая спектроскопия, силовая спектроскопия, наноиндентирование, наноманипулирование, нанолитография) микроскопии, а также методами туннельной микроскопии.
Технические характеристики:
Разрешающая способность в плоскости XY не хуже 0,1 нм.
Разрешающая способность по оси Z не хуже 0,01 нм
Позволяет проводить исследования поверхности:
в вакууме, при температуре кипения жидкого азота (−195,75°C), а также в диапазоне температур от комнатной до 500°C с точностью поддержания температуры 0,1°C.
Технические характеристики:
Разрешающая способность в плоскости XY не хуже 0,1 нм.
Разрешающая способность по оси Z не хуже 0,01 нм
Позволяет проводить исследования поверхности:
в вакууме, при температуре кипения жидкого азота (−195,75°C), а также в диапазоне температур от комнатной до 500°C с точностью поддержания температуры 0,1°C.