Растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией Jeol JSM-7500F в комплекте с системой энергодисперсионного микроанализа INCA Energy 350
14 сентября 2018
495
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Краснодарский край, Краснодар |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование нано- и микроструктуры, элементного состава твердых материалов методами растровой электронной микроскопии. Технические характеристики: Оснащен: -вольфрамовым катодом холодной полевой эмиссии;- детектор вторичных электронов; - детектор отраженных электронов; - детектор прошедших электронов (STEM-детектор);- энергодисперсионный детектор анализа состава INCA Energy 500.Рабочий диапазон ускоряющих напряжений от 0,1 до 30 кВ. Разрешающая способность не хуже 1 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ, не хуже 2,1 нм – 1 кВ. Увеличение в диапазоне от 25х до 900000х.Позволяет проводить исследования при температуре кипения жидкого азота (−195,75°C).